Лабораторный практикум по курсу "Физика"
010810. Исследование ВАХ полупроводника при различных температурах
 Цель работы
Исследовать ВАХ полупроводникового образца при различных температурах.
Используемое оборудование
Краткое описание работы
В ходе выполнения лабораторной работы исследуется ВАХ полупроводникового образца. Полупроводник размещен в стенде с объектами исследования С3-ТТ03 на термостатированной площадке. Стенд содержит нагревательный элемент и вентилятор для быстрого охлаждения термокамеры. Все измерения проводятся с помощью характериометра ИСХ1. В состав характериометра входят источник пилообразного сигнала, измеритель тока и напряжения. Результаты измерений отображаются на экране дисплея и могут быть переданы в ЭВМ.
Работа выполняется в ручном варианте и с применением ЭВМ. Документы
Краткое методическое описание
|
|||||||||||||||
